磁粉探傷靈敏度試片A1\\C\\D\\M1 產(chǎn)品型號：磁粉探傷靈敏度試片A1 產(chǎn)品簡(jiǎn)介：A型靈敏度試片最先由日本無(wú)損檢測學(xué)會(huì )提出，以后為多個(gè)國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過(guò)程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場(chǎng)強度有所估量A型靈敏度試片是磁